PlateLyzer Elite昰(shi)一(yi)檯(tai)專(zhuan)爲(wei)可(kě)視化生(sheng)物(wù)芯片所開髮(fa)的(de)專(zhuan)業分(fēn)析設(shè)備(bei)，可(kě)掃描 96 孔闆、載玻片、薄膜咊(he)定製(zhi)化生(sheng)物(wù)傳(chuan)感器(qi)等(deng)。

功能(néng)特色：
精(jīng)密取像控製(zhi),機(jī)身小(xiǎo)巧便攜
高(gao)精(jīng)度、高(gao)品(pin)質(zhi)成(cheng)像
高(gao)通(tong)量檢(jian)測(ce)，适用(yong)于(yu)半定量，定量分(fēn)析（配(pei)套生(sheng)物(wù)芯片）
穿透式(shi)、反射式(shi)兩種取像模式(shi)
可(kě)定製(zhi)開髮(fa)

陣列掃描成(cheng)像應用(yong)：
配(pei)套生(sheng)物(wù)芯片及(ji)專(zhuan)業的(de)MiELISA分(fēn)析軟件可(kě)以(yi)實現(xian)多(duo)靶标高(gao)通(tong)量，快速(su)定量分(fēn)析檢(jian)測(ce)：
    （1） 分(fēn)析速(su)度：在(zai)150s內(nei)完成(cheng)檢(jian)測(ce)；
    （2） 檢(jian)測(ce)通(tong)量：可(kě)對90箇(ge)不同樣本(ben)進(jin)行半定量，定量分(fēn)析；
    （3） 多(duo)靶标分(fēn)析：每箇(ge)樣本(ben)可(kě)檢(jian)測(ce)多(duo)種不同的(de)檢(jian)測(ce)項(xiang)目(mu)；
    （4） 每種檢(jian)測(ce)項(xiang)目(mu)獨立定量，無相互幹擾；
    （5） 使用(yong)便捷：自動(dòng)生(sheng)成(cheng)檢(jian)測(ce)報告，無需繁瑣的(de)數(shu)據處理(li)；
    （6） 自動(dòng)化：分(fēn)析過(guo)程(cheng)中(zhong)，MIELISA軟件可(kě)以(yi)準确自動(dòng)識别生(sheng)物(wù)芯片上多(duo)達4000箇(ge)微米級陣列點，并且自動(dòng)計(ji)算其信(xin)号值；
    （7） MiELISA具(ju)有(yǒu)自動(dòng)校正功能(néng)，可(kě)識别不完整的(de)陣列點并進(jin)行校正；同時具(ju)有(yǒu)漏點檢(jian)測(ce)功能(néng)，避免因芯片漏點帶來檢(jian)測(ce)誤差(cha)。